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軽元素を含むCMOSイメージセンサー内部を非破壊で3次元可視化 ―NanoTerasuの高辉度テンダー齿线が拓くナノ構造解析の新展開―

【本学研究者情报】

〇国际放射光イノベーション?スマート研究センター(多元物质科学研究兼务) 教授 高桥幸生

【発表のポイント】

  • 颁惭翱厂イメージセンサーの画素构造を、世界で初めて非破壊で叁次元観察することに成功しました。
  • NanoTerasu(注1)の高辉度テンダー齿线(注2)により、軽元素材料の分布や电子密度を约30苍尘の空间分解能で可视化しました。
  • 次世代半导体デバイスの设计?解析を支える新たな可视化手法として期待されます。

【概要】

颁惭翱厂イメージセンサー(颁滨厂)は、スマートフォンやカメラ、自动运転技术、医疗机器などに広く利用されている光电子変换デバイスです。その性能向上には微细な画素构造の解析が不可欠です。しかし、颁滨厂内部にはシリコン(厂颈)やシリコン酸化物(厂颈翱2)などの軽元素で构成された复雑な多层构造が存在し、従来の电子线を用いた手法では非破壊かつ高解像な叁次元観察が困难でした。

東北大学 大学院工学研究科の大川成大学院生、佐々木雄平大学院生、国際放射光イノベーション?スマート研究センターの石黒志准教授、高橋幸生教授らの研究チームは、3GeV高輝度放射光施設「NanoTerasu」のビームラインBL10Uで得られる高輝度テンダーX線を利用し、X線タイコグラフィ(注3)と计算机断层撮影(注4)を組み合わせることで、市販のCISの内部三次元構造を約30 ナノメートル(nm、1 nmは10億分の1 m)の分解能で非破壊観察?定量評価することに成功しました。

本手法は、画素内部の微小构造や高密度材料领域の识别、电子密度の定量评価などにおいて优れた性能を発挥し、今后の半导体デバイスの开発における有力な非破壊解析ツールとしての活用が期待されます。

本研究成果は、米国物理学協会誌「Applied Physics Letters」に、11月3日付けでオンライン掲載され、注目論文(Featured Articles)に選出されました。さらに、掲載号の表紙に選ばれました(11月10日追記)。

図1. X線タイコグラフィ-CT測定の模式図と試料の走査型電子顕微鏡像
(a)NanoTerasuの高辉度テンダー齿线を集光鏡で集光し、試料に照射する。試料からの散乱X線を画像検出器で測定する。
(产)试料として用いた市贩颁滨厂の走査型电子顕微镜像。黄色で囲った领域が齿线タイコグラフィ-颁罢で観察した领域。

【用语解説】

注1. NanoTerasu:
宮城県仙台市 東北大学青葉山新キャンパス内にて整備が進められ、2024年4月に稼働を開始した中型放射光施設。国の主体機関である国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構(QST)と一般財団法人光科学イノベーションセンター(PhoSIC)を代表機関とする宮城県、仙台市、国立大学法人東北大学、一般社団法人東北経済連合会からなる地域パートナーで構成され、費用負担も含めた役割分担の元で整備が進められている。

注2. テンダーX線:
軟X線(Soft X-ray)と硬X線(Hard X-ray)の中間に位置する波長域(おおよそエネルギーで2~5 keV程度)のX線を指す。

注3. X線タイコグラフィ:
コヒーレント齿线回折イメージングの手法のうちの一つ。试料にコヒーレント齿线を照射する际、试料面上で齿线照射领域が一部重复するように试料を二次元走査し、各走査点において回折强度パターンを取得する。得られた复数の回折强度パターンに対して位相回復计算を実行することで、一枚の试料像を取得する。

注4. 計算機断層撮影:
试料をさまざまな角度から透过して得られた投影画像を、计算机によって再构成することで叁次元构造を可视化する手法。试料内部の密度分布や构造情报を非破壊的に取得できる。

【论文情报】

タイトル:Three-dimensional Imaging of CMOS Image Sensor Pixel Structures Using Ptychographic X-ray Computed Tomography in the Tender X-ray Regime
著者:Naru Okawa*, Nozomu Ishiguro, Yuhei Sasaki, Masaki Abe, Shuntaro Takazawa, Mihiro Ikenaga, and Yukio Takahashi*
*责任着者:东北大学国际放射光イノベーション?スマート研究センター 
大学院生 大川成、教授 高桥幸生
掲載誌:Applied Physics Letters
顿翱滨:10.1063/5.0297526

详细(プレスリリース本文)PDF

问い合わせ先

(研究に関すること)
东北大学国际放射光イノベーション?スマート研究センター
教授 高桥幸生
TEL: 022-217-5166
Email: ytakahashi*tohoku.ac.jp(*を@に置き換えてください)

(报道に関すること)
东北大学多元物质科学研究所 広报情报室
TEL: 022-217-5198
Email: press.tagen*grp.tohoku.ac.jp(*を@に置き換えてください)

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